Acute Technology, Inc
Acute TravelData 16-Bit-Datengenerator
Acute TravelData 16-Bit-Datengenerator
SKU: TD3116B
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Key Features
Overview
The Acute Technology TravelData TD3116E/TD3216E is a compact, PC-based digital pattern generator for exercising and validating digital interfaces. Via USB 3.0, it provides up to 16 data output channels plus dedicated event inputs for flexible triggering and synchronisation. A programmable clock supports very low rates for bring-up through to high-speed operation, while deep per-channel memory allows long, repeatable stimulus sequences.
The TravelData family includes multiple variants. If you need a smaller channel count, see the related TD3008E 8-channel model. All models use the same Windows application for editing vectors, importing user patterns (e.g., VCD/CSV) and generating common bus protocols such as I²C, SPI, PWM and others. Typical use cases include protocol emulation, state machine testing, power-up sequencing, and regression stimulus during firmware iteration.
Why consider TravelData?
Engineers choose TravelData when they need a portable digital stimulus tool that exceeds the capabilities of simple GPIO toggling or microcontroller test code. Compared with bench instruments, it offers a small footprint, deep vector memory, multi-channel correlation and an affordable route to complex, protocol-aware testing—ideal for lab or field use with a laptop.
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Entfesseln Sie Ihr Testpotenzial mit dem TravelData-Datengenerator von Acute Technology
Der Datengenerator TravelData TD3000 von Acute Technology ist die ultimative Lösung zum Generieren hochwertiger Testdaten zur Überprüfung elektronischer Designs. Mit seinen leistungsstarken Funktionen und der intuitiven Software ermöglicht der TD3000 Ingenieuren die einfache Validierung ihrer komplexesten Systeme.
Flexible und anpassbare Testdatengenerierung
Mit dem TD3000 können Sie:- Generieren Sie bis zu 16 Kanäle mit Testdaten bei atemberaubenden Geschwindigkeiten von bis zu 200 Mbit/s pro Kanal.
- Erstellen Sie komplexe Wellenformen und Datensequenzen mit Zeichenwerkzeugen oder Skriptdateien
- Passen Sie Parameter wie Spannung, Frequenz, Arbeitszyklus und mehr an, um die vollständige Kontrolle zu erhalten
- Simulieren Sie Industriestandardbusse wie I2C, SPI und MIPI
- Integrieren Sie externe Signale mit drei flexiblen Ereigniseingangskanälen
Egal, ob Sie einfache digitale Muster oder komplexe Schnittstellen wie MIPI RFFE simulieren müssen, der TD3000 bietet alles. Die erweiterte TravelData-Software vereinfacht die Konfiguration Ihrer Testfälle.
Optimiert für Portabilität und Komfort
Trotz seiner leistungsstarken Funktionen bietet der TD3000 einen kompakten, tragbaren Formfaktor. Er wird über USB 3.0 angeschlossen und vollständig vom Hostcomputer mit Strom versorgt. Die robuste Aluminiumkonstruktion gewährleistet Zuverlässigkeit auch in anspruchsvollen Umgebungen. Ob im Labor, in der Produktion oder im Außendienst, der TD3000 liefert grundsolide Leistung.
Steigern Sie die Produktivität und beschleunigen Sie die Markteinführung
Mit dem TD3000 können Sie Designs schneller validieren und die Markteinführungszeit verkürzen. Mit der Möglichkeit, komplexe Testfälle auf Knopfdruck zu generieren, können Sie sich auf Designinnovationen konzentrieren, anstatt Testbänke zu bauen. Acute Technology verfügt über jahrzehntelange Erfahrung in der Bereitstellung fortschrittlicher Test- und Messlösungen für Kunden weltweit. Mit dem TravelData TD3000 als Copilot können Sie Ihr wahres Testpotenzial entfalten.| General Information | |
|---|---|
Part Number (SKU) |
TD3116B
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Manufacturer |
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| Physical and Mechanical | |
Weight |
1.0 kg
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| Other | |
EAN |
5055383616794
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Questions and Answers
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Can I Import Patterns From Simulation or Captures?
Yes. Import VCD files (or CSV files for MIPI I3C and RFFE patterns), or start from protocol templates, then edit them in the waveform editor.
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How Does This Compare with High-End Benchtop Pattern Generators?
Benchtop units (for example, high-speed Keysight platforms) offer higher maximum rates and analogue capabilities but are larger and costlier. TravelData focuses on portable digital stimulus for embedded buses, with deep pattern memory on the TD3216.
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Can I Synchronise Pattern Generation to External Events?
Yes. Three event inputs let your DUT or other instruments trigger the pattern or hold it until an event occurs (wait for event).
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Is There a Lower-Cost, Lower-Channel Model?
Yes. The TravelData TD3008E has 8 channels and uses the same software; the gripper set differs.
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How Can I Create or Edit a Waveform?
Use the TravelData Windows application (64-bit).
- Start a new pattern, set the clock and output levels, then assign channels.
- Draw vectors in the waveform editor or write them as a DGV script. Add loops, holds and jump labels, and group lines into buses.
- To speed up setup, load a protocol template (for example I²C, SPI, PWM, I3C or RFFE), or import a VCD file (CSV for I3C and RFFE patterns).
- Download the pattern to the generator and run it.
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Does It Support Common Serial Protocols?
Yes. Templates cover I²C, SPI, PWM, MIPI I3C, RFFE, PMBus and counters. You can also create arbitrary vectors or import patterns from VCD files.
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How Many Channels Can I Drive Concurrently?
Up to 16 digital outputs in parallel, plus 3 event inputs and 1 clock input for triggering and synchronisation.
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What Output Levels Are Available?
Output amplitude is programmable from 0.9Vpp to 4.5Vpp in 0.1V steps, with Hi-Z, so you can match typical logic families during bring-up and debug. The minimum swing rises to 1.1Vpp at 200Mbps.
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How Fast Can It Run?
The clock runs from 1Hz to 200MHz (100MHz on the TD3008E), from slow power-up sequencing through to high-speed digital interfaces.
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What Operating Systems Are Supported?
The application runs on Windows 7, 8, 10 and 11 (64-bit software only), and the generator connects over USB 3.0.
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What Is the Difference Between TravelData Variants?
TravelData models share the same software but differ in channel count, pattern memory depth and maximum data rate (the 8-channel TD3008E runs at up to 100Mbps). Choose the model that matches your test vectors’ length and parallelism.
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